LFET (Low Frequency Eddy Current Testing)

전자기 방식을 이용한 비접촉식 스캔으로, 검사 대상체에 저주파수의 전자기장을 유도하고 자기장의 변화를 Scanner를 통해 감지하여 검사 결과를 3D-image로 형상화 및 결함의 성장에 대한 모니터링을 가능하게 함으로서 재료의 감육 및 부식 상태 등을 확인하는 검사 기법